№328 Методы измерения параметров полупроводников и диэлектриков. Разд.: Электрофизические и фотоэлектрические методы измерения параметров полупроводников: лаб. практикум
Журавлев, В. Б., Ладыгин, Е. А., Мартынов, В. Н., Спицына, Л. Г.年:
1982
出版商:
МИСИС
語言:
russian
文件:
PDF, 55.59 MB
IPFS:
,
russian, 1982